New Technique Utilizes Fast Convergence Cross-Correlation to Improve Measurement Speed and Accuracy
AUSTIN, Texas--(BUSINESS WIRE)--NI (Nasdaq: NATI) today announced a fast convergence cross-correlation measurement technique to provide best-in-class error vector magnitude (EVM) performance with Wireless LAN (WLAN) signals. The new technique utilizes patented technology that allows engineers to improve both the accuracy and measurement speed of critical EVM measurements. It allows WLAN device manufacturers to guarantee spec compliance and state-of-the-art performance while accelerating time to market.
The evolution of the WiFi7 or IEEE 802.11be standard offers consumers dramatic improvements in data throughput through wider channel bandwidths, improved spectrum efficiency and higher-order modulation schemes like 4096-QAM. WiFi7 also introduces new technical requirements to WLAN device manufacturers and requires WLAN systems and components to achieve more stringent RF performance requirements.
One of the most challenging RF performance measurements of new WiFi7 designs is the EVM measurement over wide RF bandwidth. To address this challenge, NI has introduced a multi-instrument measurement technique that takes advantage of two NI vector signal transceivers (VSTs). The approach utilizes cross-correlation signal processing to improve measurement accuracy and achieve WiFi7 performance specifications. The new technique implements patented technology that allows engineers to reduce the time to perform extremely high dynamic range, wide bandwidth measurements by up to 100x when compared to traditional cross-correlation methods, depending on the scenario. The result reduces product characterization times, allowing test engineers to accelerate time to market. The EVM Measurement Technique described herein is protected by US Patent No. 10,841,019 and US Patent Publication No.: 20220065972.
“As Wi-Fi7 technology is driving ever increasing RF performance levels, NI continues to innovate with new measurement techniques that allow our customers to reach state-of-art performance while improving their test time and manufacturing yields,” said Chen Chang, Senior Director of Offering Management. “NI’s new patented fast cross-correlation measurement technique allows our customers to guarantee industry leading RF performance – and do so while accelerating their time to market.”
In addition to improving measurement performance, software-centric PXI automated test systems offer industry-leading flexibility and scalability. Through standardization of NI’s full platform of instrumentation from DC to mmWave, engineers can reduce overall characterization time while increasing test coverage. This allows NI customers to deliver higher product performance while accelerating the product development workflow.
If you would like a hands-on demo of NI’s Cross-Correlation Technology, NI will be at the IEEE’s Microwave Symposium in Denver June 19-24, Booth 5020.
At NI, we bring together the people, ideas and technology so forward thinkers and creative problem solvers can take on humanity’s biggest challenges. From design and validation to manufacturing production, we provide software-connected systems leveraging data through all aspects of the development life cycle, enabling engineers and enterprises to Engineer Ambitiously™ every day.
National Instruments, NI, ni.com and Engineer Ambitiously are trademarks of National Instruments Corporation. Other product and company names listed are trademarks or trade names of their respective companies.
The EVM Measurement Technique described herein is protected by US Patent No. 10,841,019 titled “Cross-Correlation Measurements for Modulation Quality Measurements,” and US Patent Publication No.: 20220065972 titled “Fast Convergence Method for Cross-Correlation Based Modulation Quality Measurements.”
Новый метод Использует Быструю Взаимную Корреляцию Сходимости для повышения Скорости и точности измерений
ОСТИН, Техас -- (BUSINESS WIRE)--NI (Nasdaq: NATI) сегодня анонсировала метод измерения перекрестной корреляции с быстрой конвергенцией, обеспечивающий лучшую в своем классе производительность по величине вектора ошибок (EVM) для сигналов беспроводной локальной сети (WLAN). В новом методе используется запатентованная технология, которая позволяет инженерам повысить как точность, так и скорость измерения критических измерений EVM. Это позволяет производителям устройств WLAN гарантировать соответствие техническим требованиям и самую современную производительность, одновременно ускоряя время выхода на рынок.
Эволюция стандарта WiFi7 или IEEE 802.11be предлагает потребителям значительные улучшения в пропускной способности данных за счет расширения полосы пропускания канала, повышения эффективности использования спектра и схем модуляции более высокого порядка, таких как 4096-QAM. WiFi7 также вводит новые технические требования к производителям устройств WLAN и требует, чтобы системы и компоненты WLAN соответствовали более строгим требованиям к радиочастотной производительности.
Одним из наиболее сложных измерений радиочастотной производительности новых конструкций WiFi7 является измерение EVM в широкой радиочастотной полосе пропускания. Чтобы решить эту проблему, NI внедрила метод измерения с несколькими приборами, который использует преимущества двух приемопередатчиков векторных сигналов NI (VSTS). Этот подход использует перекрестную корреляционную обработку сигналов для повышения точности измерений и достижения технических характеристик WiFi7. В новом методе реализована запатентованная технология, которая позволяет инженерам сократить время выполнения измерений с чрезвычайно высоким динамическим диапазоном и широкой полосой пропускания до 100 раз по сравнению с традиционными методами взаимной корреляции, в зависимости от сценария. В результате сокращается время определения характеристик продукта, что позволяет инженерам-испытателям ускорить вывод продукта на рынок. Описанный здесь метод измерения EVM защищен патентом США № 10,841,019 и публикацией патента США №: 20220065972.
“Поскольку технология Wi-Fi7 обеспечивает постоянно растущий уровень радиочастотной производительности, NI продолжает внедрять инновации с помощью новых методов измерения, которые позволяют нашим клиентам достигать самых современных показателей при одновременном увеличении времени тестирования и производительности производства”, - сказал Чен Чанг, старший директор по управлению предложениями. “Новый запатентованный NI метод измерения быстрой взаимной корреляции позволяет нашим клиентам гарантировать лучшие в отрасли радиочастотные характеристики - и при этом ускорять их вывод на рынок”.
В дополнение к повышению производительности измерений программно-ориентированные автоматизированные тестовые системы PXI обеспечивают лучшую в отрасли гибкость и масштабируемость. Благодаря стандартизации всей платформы измерительных приборов NI от DC до mmWave инженеры могут сократить общее время определения характеристик при одновременном увеличении охвата тестированием. Это позволяет заказчикам NI обеспечивать более высокую производительность продукта при одновременном ускорении рабочего процесса разработки продукта.
Если вы хотите получить практическую демонстрацию технологии кросс-корреляции NI, NI будет присутствовать на симпозиуме IEEE по микроволновой технологии в Денвере 19-24 июня, стенд 5020.
В NI мы объединяем людей, идеи и технологии, чтобы дальновидные мыслители и творческие решатели проблем могли справиться с самыми большими вызовами человечества. От проектирования и валидации до производства мы предоставляем подключенные к программному обеспечению системы, использующие данные во всех аспектах жизненного цикла разработки, что позволяет инженерам и предприятиям разрабатывать Ambitiously™ каждый день.
National Instruments, NI, ni.com и Engineer Ambitiously являются товарными знаками корпорации National Instruments. Другие перечисленные названия продуктов и компаний являются товарными знаками или торговыми наименованиями соответствующих компаний.
Описанный здесь метод измерения EVM защищен патентом США № 10 841 019 под названием “Измерения взаимной корреляции для измерения качества модуляции” и публикацией патента США №: 20220065972 под названием “Метод быстрой конвергенции для измерений качества модуляции на основе взаимной корреляции”.
Показать большеПоказать меньше